8. Анализ причин неисправности осветительного прибора (светодиода, др. источников света).
Содержание материала
Анализ неисправности вторичных источников питания (драйверов) и систем управления.
Рисунок 33. Вторичный источник питания постоянного тока.
Рисунок 34. Исследование нагрузочной характеристики источника. Режим срыва генерации из-за отсутствия нагрузки. Значения на шкале «Время» показаны условно: частота импульсов ~ 1,5Гц., Rнагрузки >> 175 Ом.
Рисунок 35. Переменная составляющая выходного напряжения вторичного источника питания в штатном режиме стабилизации выходного тока. а) – вид АМ сигнала, б) – структура импульсов заполнения с частотой 273,56кГц. Значения амплитуды и времени на всех диаграммах показаны условно.
Исследование режимов электропитания светодиодов.
Рисунок 36. Исследование электрических характеристик выходного напряжения вторичного источника питания в момент включения сетевого питания. Определение бросков тока и напряжения на нагрузке.
Анализ неисправности вторичных источников питания (драйверов) и цепей их подключения
Рисунок 37. Определение причин выхода из строя вторичного источника питания светильника: анализ неисправности входных цепей, фильтра, выпрямителя и др. – а), проверка корректности подключения сетевого питания и заземления – б).
Измерительное оборудование собственного производства
СМИ о нас
Архив-
21.03.2012
Сотрудники Лаборатории приняли участие в телепередаче на одном из московских каналов
Сотрудники Лаборатории приняли участие в телепередаче на одном из московских каналов... Мы были в эфире 20 марта в 15-00 часов на канале "Доверие".
-
10.09.2011
Открытие новой фотометрической лаборатории «АРХИЛАЙТ»
Учредители компании ООО «АРХИЛАЙТ» информируют светотехническое сообщество, производителей, проектировщиков, поставщиков, потребителей светотехнических приборов, источников света, светодиодов и устройств на их основе ...
Статьи
Архив статей- 28.01.2015 Умом Россию не понять, в России можно только мерить, или Физические аспекты восприятия полупроводникового света человеческим глазом
- 22.01.2015 Интернациональная физика и отечественная лирика современной метрологии света
- 21.01.2015 Исследование причин выхода из строя светодиодов с традиционными эпоксидными корпусами-линзами
Телепередачи с участием лаборатории Архилайт
Подробнее- 14.01.2014 Участие в мероприятиях и телепередачах